SEM-EDX kategorisinde; Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ve Enerji Dağılımlı X-Işını Analizi (EDX) teknikleri ile gerçekleştirilen mikroskobik inceleme, elementel bileşim analizi ve mikroyapı değerlendirmelerine dair bilgilendirici içerikler yer almaktadır. Vonka Laboratuvar uzmanlığıyla hazırlanan yazılar; malzeme analizi, partikül karakterizasyonu, lif yapıları ve ileri düzey mikroskopi uygulamaları hakkında teknik doğruluğu yüksek bilgiler sunmayı amaçlar.